Cp测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

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检测项目

1.电气参数测试：直流参数测试、交流参数测试、漏电流测试、阈值电压测试、驱动电流测试。

2.功能验证测试：逻辑功能测试、存储单元读写测试、时序特性测试、接口协议测试。

3.可靠性相关测试：高温工作测试、低温工作测试、电源电压容限测试、信号完整性测试。

4.缺陷筛查测试：短路检测、开路检测、桥接故障检测、存储器修复测试。

5.性能极限测试：最大工作频率测试、最小工作电压测试、功耗特性测试、噪声容限测试。

6.特殊参数测试：模拟电路特性测试、数模混合电路测试、射频性能测试、高速接口测试。

7.一致性测试：批次间参数分布测试、良率统计分析、关键参数漂移监测。

检测范围

硅晶圆、化合物半导体晶圆、逻辑芯片晶圆、存储器芯片晶圆、模拟芯片晶圆、射频芯片晶圆、传感器芯片晶圆、电源管理芯片晶圆、微处理器芯片晶圆、微控制器芯片晶圆、图像传感器晶圆、显示驱动芯片晶圆。

检测设备

1.晶圆探针台：用于固定晶圆并实现探针与芯片焊盘精准对位接触，支持多温区测试。

2.自动测试设备：执行电气信号施加与响应采集，完成大规模并行参数测量。

3.探针卡：集成多个探针阵列，实现与晶圆上多个芯片焊盘同时电连接。

4.温度控制系统：为测试环境提供稳定高温或低温条件，模拟实际工作温度。

5.信号发生器：产生所需测试波形，用于时序和功能验证。

6.精密测量单元：高精度采集电压、电流等微弱信号，确保参数测试准确性。

7.数据分析工作站：实时处理测试结果，进行统计分析和良率判定。

8.激光修补设备：针对可修复型存储器进行冗余单元替换操作。

9.探针清洁系统：保持探针针尖清洁，维持长期测试接触可靠性。

10.防静电环境设备：控制测试区域静电水平，保护敏感芯片不受损伤。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质